А.М. Бобрешов, А.В. Дыбой , И.С. Коровченко, Ю.Н. Нестеренко, Г.К. Усков (A.M. Bobreshov, A.V. Dyboy, I.S. Korovchenko, Yu.N. Nesterenko, G.K. Uskov)
В ходе экспериментов выяснилось, что испытуемые микросхемы обладают высокой стойкостью по отношению к необратимым отказам.